威尔粗糙度仪的测量方法主要分为接触式粗糙度仪测量和非接触式粗糙度仪测量。这两种方法都可以提供表面粗糙度的数值和图像表示。

一、接触式粗糙度测量仪：

接触式粗糙度测量仪是通过机械探针与被测物体表面接触来进行测量的。当机械探针接触到被测表面时，测量系统会记录下机械探针的运动轨迹和力的变化。通过测量探针在表面上的运动和受到的力的变化，可以计算出表面的形貌参数。测量原理中的关键是探针与被测表面的接触和运动，因此需要保证探针的稳定性和精确性。

优点：设备成本相对较低。

缺点：探针维修和更换的成本高；测量速率较慢、精度较低；对测量物体有损伤；对被测材料有要求，软质材料、尖锐产品难以测量。

二、非接触式粗糙度测量仪：

非接触式粗糙度测量仪一般采用光学的原理。比如：白光干涉仪利用光干涉的原理，获取物体表面信息，是一种精密测量仪器，能对物体的表面粗糙度进行高精度测量。以压电陶瓷器件驱动的白光干涉仪的测量精度很高，精度可以达到亚纳米级别。以大量程、高精度的高速压电陶瓷单元驱动的白光干涉仪精度高达0.03nm，扫描速度高达400μm/s。它应用的行业很广泛，可应用于新能源、半导体、精密加工、精密光学、航空航天、6C产品、材料、液晶等领域。