威尔WALE粗糙度轮廓仪测量分析基础
发布日期:2023-09-15

威尔WALE推出⽆导头式宽范围传感器并⽤于粗糙度仪上,在宽范围内仍具有极⾼的线性精度和极低的本体噪声。这⼀技术,在测量斜⾯粗糙度、圆弧粗糙度时优势尤为突出。


威尔WALE粗糙度轮廓仪测量分析基础

所有表面的可测量元素包括尺寸、形状、粗糙度和波纹度。许多高规格的组件都需要分析以上全部元素。


>尺寸:由半径、角度、距离和特征之间的线性关系定义的表面功能形状。

>外形: 相对于表面(平面、球面、锥面等)的目标形状的偏差,通常由机床误差所导致。

>粗糙度: 由切割工具或加工过程等 因素所造成的。

>波纹度:由震动、刚性不足或加工过程中的其它不稳定因素所造成的非理想的机床效果。



全系机台均采⽤⼀体式设计,结构紧凑,占地空间仅为分体式的50%。

全系机台均带落地式防振机台,用户⽆需另⾏配置强⼒⼯作平台。

机台符合⼈体⼯学,减轻操作者使⽤疲劳强度。